41. Testing and reliable design of CMOS circuits
پدیدآورنده : Jha, Niraj K.
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)
موضوع : ، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Reliability,، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction
42. Tutorial-VLSI testing and validation techniques
پدیدآورنده : )compiled by( Hassan K. Reghbati
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
T8855
1985
43. Tutorial--VLSI testing & validation techniques
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : Testing ، Integrated circuits-- Very large scale integration
رده :
TK
7874
.
T8855
1985
44. Tutorial test generation for VLSI chips
پدیدآورنده : ]edited by[ Vishwani D. Agrawal and Sharad C. Seth
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits,، Automatic checkout equipment
رده :
TK
7874
.
T8857
1988
45. Unified methods for VLSI simulation and test generation
پدیدآورنده : by Kwang-Ting Cheng and Vishwani D. Agrawal
موضوع : Integrated circuits- Very large scale integration- Computer-aided design,Integrated circuits- Very large scale integration- Testing,Integrated circuits- Very large scale integration- Computer simulation
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
46. VLSI design and test :
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Integrated circuits ; Very large scale integration ; Testing ;
47. VLSI testing
پدیدآورنده : edited by T.W. Williams
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
V5666
1986
48. VLSI testing: digital and mixed analogue/digital techniques
پدیدآورنده : Hurst, Stanley L.
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing
رده :
TK
7874
.
H8882
1998
49. VLSI testing : digital and mixed analogoue /digital techniques
پدیدآورنده : Hurst, S. L.
کتابخانه: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع : Testing ، Integrated circuits - Very large scale integration
رده :
TK
7874
.
H8
1998
50. VLSI testing: digital and mixed analogue/ digital techniques
پدیدآورنده : Hurst, Stanley L.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
H87
1998